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常用逻辑门芯片测试装置研究与设计
作者: 刘艳 唐海贤 景昊 张斌 高茜 河海大学物联网工程学院 江苏常州213022
关键词: 数字电路 逻辑门 芯片测试 实践教学
摘要：结合数字电路相关课程的改革,针对数字电路中常用的74/54系列逻辑门芯片,研究并设计了一种基于单片机最小系统的常用逻辑门芯片测试装置。该装置为电子技术相关理论和实践教学提供了快速、直观、稳定的测试方式,提高了实验室芯片检测的效率与准确率,同时也提高了理论与实验课程的教学效果。
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