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基于 STM32的晶体管特性曲线测试仪
作者: 刘士兴 ; 刘宏银 ; 赵博 ; 鲁迎春 ; 易茂祥
关键词: 晶体管特性曲线 嵌入式处理器 数字滤波 LCD 显示
摘要:设计了一种以 STM32F103VET6为核心的晶体管输入输出特性曲线测试仪.通过数字电位器实现对待测三极管基极输入电流的阶梯控制,基极驱动电流0~160μA,分辨率达到0.1μA;通过内嵌 DAC 控制三端稳压电路的输出实现集电极扫描电压的调节,输出范围0~30 V,最高分辨率3.18 mV;电流的测量首先通过采样电阻转换为待测电压,经仪表放大器进行放大后由内嵌 ADC 进行采样,采用中位值平均滤波法滤除采样干扰.由 STM32F103VET6处理器对所测得参数运算处理,绘制晶体管输入输出特性曲线,通过 LCD实时显示晶体管特性曲线及放大倍数 h FE 值;测试仪还具有与上位机通信的功能,方便实现对所测数据做进一步处理.
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