- · 清华大学与美国布鲁金斯学会联合举办高级别闭门圆桌会议 探讨中美合作路径 共同应对新冠疫情[02/06]
- · 美术学院设计团队完成2021央视春晚动漫生肖吉祥物形象及周边衍生品设计[02/05]
- · 马来西亚IOI产业集团董事长李耀昇捐赠清华大学[02/02]
- · 新时代高校助力乡村振兴交流研讨会成功举办[02/01]
- · 清华大学电子工程系陆明泉教授荣获美国导航学会瑟洛奖并当选会士[01/29]
- · 清华大学全球战略布局项目2021年度工作交流会召开[01/23]
- · 清华大学召开2021年两院院士新春座谈会[01/20]
- · 清华大学召开2020年度校领导班子民主生活会[01/19]
TiO2覆膜层厚度的拉曼光谱测定
作者: 李耿 [1] ; 刘燕 [2]
关键词: 金红石型二氧化钛 覆膜厚度 拉曼光谱扫描
摘要:为解决TiO2覆膜层厚度值测定和验证问题,采用拉曼光谱一维线扫描技术,对金红石型TiO2覆膜的厚度和物相进行了测定。研究表明,通过金红石型T iO2位于610cm-1处的峰A1 g振动的拉曼谱峰强度信息,无损测得了微米级金红石型TiO2覆膜的厚度。
上一篇:数值模拟在焊接技术实验课教学中的应用
下一篇:基于突变理论的岩石刚性试验技术研究