投稿须知
  《实验技术与管理》是中文核心期刊、RCCSE中国权威学术期刊,编辑出版工作坚持执行国家有关科技期刊的出版标准和规范。
   ...

放大电路幅频特性测试系统设计

作者: 赵博 ; 黄飞 ; 刘宏银 ; 刘士兴

关键词: 幅频特性 嵌入式处理器 DDS 全波整流

摘要:设计了一种基于嵌入式处理器控制的放大电路幅频特性测试系统。采用DDS技术搭配一款模拟乘法器为待测放大电路提供频率、幅值、波形可调的输入信号。信号频率步长为0.04 Hz ,输出范围为0.04 Hz~12.5 M Hz。待测放大电路输出信号首先通过精密全波整流滤波电路进行处理,然后经嵌入式处理器内置ADC采样处理,采样精度最高可达0.8 mV ,以实现交流信号幅值测量和幅频特性曲线的LCD显示。本系统数字集成高,成本低,且操作简单,在高校电子信息类专业的教学中可以得到广泛的应用。


上一篇:基于 CT扫描和3D打印可视化技术构建石油工程Solid Learning教学新模式
下一篇:重金属钝化修复剂对镉和铅吸附及解吸特征的影响研究

地址:北京市海淀区清华大学京公网安备 110402430053 号