- · 清华大学与美国布鲁金斯学会联合举办高级别闭门圆桌会议 探讨中美合作路径 共同应对新冠疫情[02/06]
- · 美术学院设计团队完成2021央视春晚动漫生肖吉祥物形象及周边衍生品设计[02/05]
- · 马来西亚IOI产业集团董事长李耀昇捐赠清华大学[02/02]
- · 新时代高校助力乡村振兴交流研讨会成功举办[02/01]
- · 清华大学电子工程系陆明泉教授荣获美国导航学会瑟洛奖并当选会士[01/29]
- · 清华大学全球战略布局项目2021年度工作交流会召开[01/23]
- · 清华大学召开2021年两院院士新春座谈会[01/20]
- · 清华大学召开2020年度校领导班子民主生活会[01/19]
SRAM型FPGA抗多位翻转布线算法
作者: 张硕 ; 伊小素 ; 朱明达 ; 张家铭
关键词: FPGA SEU TMR MCU
摘要：电路元器件尺寸的小型化使得现场可编门阵列（field programmable gate array,FPGA）的配置存储器更易出现单粒子效应而造成多位翻转错误。在空间电子系统中经常使用三模冗余（TMR）技术来对单粒子翻转进行防护,但是对于MCUs（单粒子撞击造成的多位翻转）TMR无法防护。该文提出一种提高TMR电路可靠性的布线算法,用于对抗MCUs。算法考虑到FPGA配置存储单元的设计信息,同时也考虑了用于记录逻辑资源位置和连接资源位置的逻辑簇信息。通过实验对MCU进行静态分析,将提出的算法用于标准电路的加固测试证明算法的可靠性和有效性。