多功能数字芯片测试仪的设计与应用

作者: 肖宝森

关键词: 故障模型 HT46RU24 TTL CMOS 测试集

摘要：集成电路芯片已经成为现代电子设备中大量使用的电子元器件,集成电路芯片的检测是电子设备故障排除中的一项重要工作。建立了固定型故障模型,并以HT46RU24为核心设计一种数字芯片测试仪,通过测试码控制并测试硬件的运行情况,把测试结果与准确值比较,自动给出正误判断的结果。该仪器能完成20脚以内TTL系列和CMOS系列数字集成电路芯片的测试,并带有网络通信接口。实践证明,该仪器具有体积小、重量轻、成本低、人机界面友好、操作方便和可靠性高等优点,具有较高的实用价值。

上一篇：基于网络技术的艺术设计实践教学系统
下一篇：可扩展式教务信息系统的设计与实现